Гавриш, Ю.Н.; Вахрушин, И.Ю.; Павленко, А.В.; Бердников, Я.А.; Лебедев, М.Б.; Усачев, Е.Ю.; Передерий, А.Н.; Сафонов, М.В.; Романов, И.В.
(2010)
В основу данного комплекса положена идея интроскопического контроля крупногабаритных изделий и методика распознавания групп элементов с близким атомным номером на основе использования дуальной энергии. В качестве источников ...